Structural characterization of a-plane Zn1−xCdxO (0 < x <0.085) thin films grown by metal-organic vapor phase epitaxy.
NAGIOS: RODERIC FUNCIONANDO

Structural characterization of a-plane Zn1−xCdxO (0 < x <0.085) thin films grown by metal-organic vapor phase epitaxy.

Repositori DSpace/Manakin

Structural characterization of a-plane Zn1−xCdxO (0 < x <0.085) thin films grown by metal-organic vapor phase epitaxy.

Mostra el registre complet de l'element

Visualització       (624.2Kb)

Exportar a Refworks
    
Zúñiga Pérez, Jesús; Muñoz Sanjosé, Vicente; Lorenz, M.; Benndorf, G.; Heitsch, S.; Spemann, D.; Grundmann, M.
Aquest document és un/a article publicat, creat/da en: 2006

    ZÚÑIGA-PÉREZ, J. ; MUÑOZ-SANJOSÉ, V. ; LORENZ, M. ; BENNDORF, G. ; HEITSCH, S. ; SPEMANN, D. ; GRUNDMANN, M. Structural characterization of a-plane Zn1−xCdxO (0 < x < 0.085) thin films grown by metal-organic vapor phase epitaxy. En: Journal of Applied Physics, 2006, vol. 99
distribuït sota llicència Creative Commons de Reconeixement-NoComercial 3.0 No adaptada

Aquest element apareix en la col·lecció o col·leccions següent(s)

Mostra el registre complet de l'element

Cerca a RODERIC

Cerca avançada

Visualitza

Estadístiques